【数字IC基础】DFT(Design For Test)可测性设计
文章目录
- 一、为什么要做DFT(可测性设计)?
- 二、啥是DFT(可测性设计),DFT的方法有哪些?
- 三、练习题
一、为什么要做DFT(可测性设计)?
- 1、芯片测试分为功能性测试和制造测试:
- 功能测试:寻找设计上可能存在的错误,用来验证电路中的逻辑行为
- 制造测试:寻找在制造过程中可能存在的制造缺陷(开路、短路等),DFT就属于这一类。
- 2、在
STA(静态时序分析)一节中,我们了解到综合后的网表需要做FM验证(功能上的验证)和STA(时序上的验证),这两种验证都是为了确保综合后的网表的正确性。 - 3、验证完毕的网表还需要做<
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